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Casa ProdottiRivelatore di difetti ad ultrasuoni

Sonda ultrasonica del film sottile di industriale PVDF Piezoelectrie di Mitech del rivelatore del difetto

Sonda ultrasonica del film sottile di industriale PVDF Piezoelectrie di Mitech del rivelatore del difetto

Ultrasonic Flaw Detector Mitech Industrial PVDF Piezoelectrie Thin Film Probe

Dettagli:

Luogo di origine: La Cina
Marca: mitech
Certificazione: iso,astm

Termini di pagamento e spedizione:

Quantità di ordine minimo: 1
Imballaggi particolari: scatola di carta
Tempi di consegna: 5-8 giorni del lavoro
Termini di pagamento: T/T, Western Union, Paypal
Capacità di alimentazione: 5000units al mese
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Descrizione di prodotto dettagliata

 

Sonda del film sottile di industriale PVDF Piezoelectrie di Mitech

 

 

Panoramica

La sonda del film sottile di industriale PVDF Piezoelectrie di Mitech, seleziona la prestazione superiore del chip materiale piezoelettrico fatto con attenzione, forte potere penetrante, l'alto rapporto segnale-rumore, la buona resistenza all'usura, risoluzione di superficie vicina eccellente, spargere il rumore è piccola e l'acqua media, la plastica e l'altro effetto di corrispondenza di bassa impedenza è molto buoni. Il processo di fabbricazione chiave adotta le attrezzature ed i dispositivi speciali, che possono eliminare l'influenza dei fattori umani il più distante possibile. Può fornire le soluzioni su misura qualità per soddisfare le esigenze speciali dei clienti. La sonda piezoelettrica del film di PVDF consiste di un elemento piezoelettrico e dello strato appoggiante di un elemento piezoelettrico, consistendo delle coperture e delle coperture. È adatto a rilevazione di parti sottili e vari difetti superficiali vicini, rilevazione ad alta frequenza e misura di spessore.

 

Mappa di prestazione

 

Sonda ultrasonica del film sottile di industriale PVDF Piezoelectrie di Mitech del rivelatore del difetto20C (circolare)

Sonda ultrasonica del film sottile di industriale PVDF Piezoelectrie di Mitech del rivelatore del difetto

20C12-6 (anello)

Onda e spettro di eco

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Persona di contatto: Edward Liu

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